◆ 基于先進的(de)軟(ruan)件開發環境、高效自主(zhu)圖形(xing)算法,安(an)全、可(ke)靠(kao)
◆ 高(gao)性能工(gong)業控制(zhi)器與工(gong)業相(xiang)機陣列,檢測效率高(gao)、精度高(gao)
◆ 方便的(de)維護艙(cang)門、推拉裝置(zhi)和安全鎖
◆ 定制(zhi)尺寸,適(shi)于生產現(xian)場與運輸
◆ 檢測液晶模組的點(dian)、線、面(mian)缺(que)陷與(yu)外(wai)觀(guan)損傷
◆ 單項缺(que)陷(xian)檢測算法達(da)到(dao)毫秒級
◆ 檢測大尺寸液晶模(mo)組
◆ 可(ke)檢測(ce)Mura、漏(lou)光等業(ye)內高難(nan)度缺陷
液晶模組檢測(ce)技術規格表 | |||||
類別 | 項次 | 機器視覺設備選型 | |||
基本型 | 增強型 | 豪華型 | 定制項 | ||
檢測指標 | 檢測精度 | 像素級 | 子像素級 | 1/2子像素 | |
整體檢測時間,備注 | 6s | 4s | 3s | ||
點缺陷 | 單亮點 | √ | √ | √ | |
連亮點 | √ | √ | √ | ||
碎亮點 | √ | √ | |||
單暗點 | √ | √ | √ | ||
連暗點 | √ | √ | √ | ||
聚焦暗點 | √ | √ | |||
線缺陷 | 黑線 | √ | √ | ||
白條 | √ | √ | |||
線狀異物 | √ | √ | |||
面缺陷 | 黑團 | √ | √ | √ | |
白團 | √ | √ | √ | ||
氣泡 | V | ||||
凹痕 | √ | ||||
異物 | √ | √ | |||
Mura | √ | √ | |||
漏光 | √ | √ | |||
外觀缺陷 | 破裂 | √ | |||
劃痕 | √ | ||||
Logo | √ | ||||
功能缺陷 | 閃動 | √ | |||
網紋 | √ | ||||
亮線 | √ | √ | √ | ||
暗線 | √ | √ | √ | ||
功能不良 | √ | √ | √ | ||
注:如(ru)上“√”表(biao)示(shi)支持 |